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透射電鏡&掃描電鏡

實驗介紹

       透射電子顯微鏡(transmission electron microscopeTSE)是利用透射電子成像,因而要求樣品極薄厚度不能超100nm。其結構包括三大部分:電子學系統、真空系統和電子光學系統。

        掃描電子顯微鏡 (scanning electron microscopySEM) 是利用聚焦的非常細的高能電子束在試樣上掃描,激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像,獲得測試樣表面形貌的觀察。其結構由真空系統,電子束系統以及成像系統組成。

       巴菲爾生物具有多年電鏡服務經驗,可為廣大客戶提供各類樣本的電鏡檢測技術服務

       儀器型號:透射電鏡:HITACHI HT7700-SS

                         掃描電鏡:TESCAN VEGA3 LMU

結果展示


服務提示

1、 請參閱透射電鏡&掃描電鏡送樣注意事項

2、 巴菲爾生物將提供完整的實驗流程報告及電鏡圖片。

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